Pregão - EletrônicoDivulgada no PNCP
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) integrado com Feixe de Íon Focalizado (FIB - Focused Ion Beam) e Espectrômetro de Massa de Íons Secundários por Tempo de Voo (TOF SIMS - Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) e de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET).
MINISTERIO DA JUSTICA E SEGURANCA PUBLICA · DIRETORIA TECNICO-CIENTIFICA/DPF
Dados da publicação
Compra90016Controle PNCP00394494000136-1-001195/2024Processo08201.000930/2024ÓrgãoMINISTERIO DA JUSTICA E SEGURANCA PUBLICACNPJ do órgão00394494000136Unidade compradoraDIRETORIA TECNICO-CIENTIFICA/DPFLocalBRASÍLIA/DFInstrumentoEditalModo de disputaAberto-FechadoPublicação25/10/2024, 14:41Abertura19/11/2024, 08:00Encerramento03/12/2024, 09:00
Contexto da contratação
Lei 14.133/2021, Art. 28, I · pregão: modalidade de licitação obrigatória para aquisição de bens e serviços comuns
Qualquer divergência na descrição entre o CATMAT e o Termo de Referência, prevalecerá o último. Para as respostas de esclarecimentos e impugnações deste edital acesse o link: https://cnetmobile.estaleiro.serpro.gov.br/comprasnet-web/public/landing?destino=quadro-informativo&compra=20040605900162024